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SN74BCT8374ADWG4中文資料德州儀器數(shù)據(jù)手冊PDF規(guī)格書

SN74BCT8374ADWG4
廠商型號

SN74BCT8374ADWG4

功能描述

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

文件大小

644.36 Kbytes

頁面數(shù)量

28

生產(chǎn)廠商

TI

中文名稱

德州儀器

網(wǎng)址

網(wǎng)址

數(shù)據(jù)手冊

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更新時間

2025-8-8 11:45:00

人工找貨

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產(chǎn)品屬性

  • 型號:

    SN74BCT8374ADWG4

  • 功能描述:

    特定功能邏輯 Scan Test Device

  • RoHS:

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 系列:

    SN74ABTH18502A

  • 工作電源電壓:

    5 V

  • 封裝/箱體:

    LQFP-64

  • 封裝:

    Tube

供應(yīng)商 型號 品牌 批號 封裝 庫存 備注 價格
TI/德州儀器
24+
NA/
7541
原廠直銷,現(xiàn)貨供應(yīng),賬期支持!
詢價
TI/德州儀器
22+
DIP
20000
原裝現(xiàn)貨,實單支持
詢價
SN74BCT8374ADWR
1823
1823
詢價
ADI
23+
DIP
8000
只做原裝現(xiàn)貨
詢價
TI/德州儀器
23+
DIP
50000
全新原裝正品現(xiàn)貨,支持訂貨
詢價
Rochester
25+
電聯(lián)咨詢
7800
公司現(xiàn)貨,提供拆樣技術(shù)支持
詢價
Texas Instruments
25+
24-SOIC(0.295 7.50mm 寬)
9350
獨立分銷商 公司只做原裝 誠心經(jīng)營 免費試樣正品保證
詢價
TI
22+
24SOIC
9000
原廠渠道,現(xiàn)貨配單
詢價
TI
16+
原廠封裝
10000
全新原裝正品,代理優(yōu)勢渠道供應(yīng),歡迎來電咨詢
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Texas Instruments
24+
24-SOIC
56200
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