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首頁>SN74BCT8373ADWR>規(guī)格書詳情

SN74BCT8373ADWR集成電路(IC)的專用邏輯器件規(guī)格書PDF中文資料

SN74BCT8373ADWR
廠商型號

SN74BCT8373ADWR

參數屬性

SN74BCT8373ADWR 封裝/外殼為24-SOIC(0.295",7.50mm 寬);包裝為卷帶(TR);類別為集成電路(IC)的專用邏輯器件;產品描述:IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

功能描述

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES

封裝外殼

24-SOIC(0.295",7.50mm 寬)

文件大小

473.69 Kbytes

頁面數量

26

生產廠商

TI

中文名稱

德州儀器

網址

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數據手冊

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更新時間

2025-8-10 16:50:00

人工找貨

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產品屬性

  • 產品編號:

    SN74BCT8373ADWR

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 類別:

    集成電路(IC) > 專用邏輯器件

  • 系列:

    74BCT

  • 包裝:

    卷帶(TR)

  • 邏輯類型:

    掃描測試設備,帶 D 型鎖存器

  • 供電電壓:

    4.5V ~ 5.5V

  • 位數:

    8

  • 工作溫度:

    0°C ~ 70°C

  • 安裝類型:

    表面貼裝型

  • 封裝/外殼:

    24-SOIC(0.295",7.50mm 寬)

  • 供應商器件封裝:

    24-SOIC

  • 描述:

    IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

供應商 型號 品牌 批號 封裝 庫存 備注 價格
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