如圖所示為反射光強度的檢測電路。該電路由紅外發(fā)光二極管、光電二極管、cmos模擬開關(guān)、運算放大器等組成。

電路正常工作時，首先使紅外發(fā)光二極管(led)不發(fā)光，光電二極管接收到的外部干擾信號轉(zhuǎn)換為電信號后加至負方向積分電路，設此段時間為t1；然后使led發(fā)光，光電二極管接收到的光信號轉(zhuǎn)換為電信號后加至正方向積分電路，設此段時間為t2。設t1=t2。則電路顯示出來所保持的信號與外部干擾無關(guān)，僅與反射光強度有關(guān)。保持信號的這段時間稱為保持時間，記為t3。相應積分器復位對應的時間為t4。

在工作頻率(50hz或60hz)下，為了有效地避免同步外部干擾，最好使t1=t2=n/f(n取整數(shù)，f為工作頻率)，或者取t1=t2<<1/f。

該電路結(jié)構(gòu)簡單，使用輸出功率為5～10mw的紅外發(fā)光二極管和光電二極管，可在距離10～100mm處檢測反射光強度。電路中運算放大器的輸入偏置電流應遠小于光電流。電路增益取決于積分時間和積分電容ci。

本電路除了可以排除干擾檢測反射光強度(反射光率)外，還可用于檢測距離、傾斜和通過率，特別適用于檢測各種光強。此外，本電路還可用于霍爾元件的磁性測量及其他測量。 來源:university